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產(chǎn)品詳情

  • 產(chǎn)品名稱：能量密度分析新材料電學(xué)測(cè)試儀

  • 產(chǎn)品型號(hào)：Huace
  • 產(chǎn)品廠商：華測(cè)
  • 產(chǎn)品價(jià)格：0
  • 折扣價(jià)格：0
  • 產(chǎn)品文檔：
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簡(jiǎn)單介紹：
能量密度分析新材料電學(xué)測(cè)試儀由華測(cè)儀器生產(chǎn)，可以通過各功能測(cè)試模塊，系統(tǒng)的科研人員從能量密度、功率密度、循環(huán)壽命、防護(hù)性四個(gè)方面對(duì)新材料性能進(jìn)行分析檢測(cè)，評(píng)估材料的性能指標(biāo)，判斷是否符合應(yīng)用要求。
詳情介紹：

能量密度分析新材料電學(xué)測(cè)試儀

測(cè)試模塊

01.電壓擊穿（介電場(chǎng)強(qiáng)）

由能量密度可知，擊穿場(chǎng)強(qiáng)相對(duì)于介電常數(shù)對(duì)于材料能量密度的影響更為突出，獲得高能量密度對(duì)復(fù)合材料擊穿場(chǎng)強(qiáng)提出了更高的要求。

能量密度分析新材料電學(xué)測(cè)試儀通過上位機(jī)系統(tǒng)控制高壓擊穿測(cè)試模塊，可以可靠、便捷、準(zhǔn)確的對(duì)測(cè)試樣品進(jìn)行工頻下的交流、高壓直流擊穿試驗(yàn)，測(cè)試出擊穿場(chǎng)強(qiáng)。甚至可以通過測(cè)試軟件設(shè)置直流輸出時(shí)間，以完成樣品的極化過程。

02.高低頻介電頻譜、溫譜
用于分析寬頻、高低溫環(huán)境下儲(chǔ)能新材料的阻抗Z、電抗X、導(dǎo)納Y、電導(dǎo)G、電納B、電感L、介電損耗D、品質(zhì)因數(shù)Q等物理量，同時(shí)還可以分析被測(cè)樣品隨溫度、頻率、時(shí)間、偏壓變化的曲線。
03.高溫絕緣電阻
高精度的電壓輸出與電流測(cè)量，即使在高低溫環(huán)境下也能很好的障蔽背景電流，保障測(cè)試品質(zhì)，適用與儲(chǔ)能新材料在不同環(huán)境溫度下絕緣性能的檢測(cè)。
04.熱釋電測(cè)試
不論是薄膜還是塊體形式的儲(chǔ)能材料，都可對(duì)其進(jìn)行熱釋電性能測(cè)試。采用電流法進(jìn)行測(cè)量，材料的熱釋電電流、熱釋電系數(shù)、剩余極化強(qiáng)度對(duì)溫度和時(shí)間的曲線。
05.TSDC熱刺激極化電流
熱刺激電流（TSC）是研究熱釋電材料中陷阱結(jié)構(gòu)和陷阱結(jié)構(gòu)所控制的空間電荷存貯及運(yùn)輸特性的工具，同時(shí)也是研究熱點(diǎn)材料結(jié)構(gòu)轉(zhuǎn)變和分子運(yùn)動(dòng)的重要手段。諸如：分子弛豫、相轉(zhuǎn)變、玻璃化溫度等等，通過TSDC技術(shù)也可以直觀的研究材料的弛豫時(shí)間、活化能等相關(guān)介電特性。
06.充放電儲(chǔ)能密度測(cè)試
用于研究介電儲(chǔ)能材料高電壓放電性能，華測(cè)充放電測(cè)試具有**設(shè)計(jì)的電容放電電路來測(cè)量，首先將測(cè)試材料充電到給定電壓，之后通過閉合高速M(fèi)OS高壓開關(guān)，將存儲(chǔ)在儲(chǔ)能材料中的能量釋放到電阻器負(fù)載中，更符合電介質(zhì)充放電原理。
07.電聲脈沖法空間電荷測(cè)量
空間電荷是指在材料特定區(qū)域內(nèi)電荷分布不均勻的現(xiàn)象。該現(xiàn)象是由于載流子的擴(kuò)散和漂移運(yùn)動(dòng)所導(dǎo)致的，在材料的局部區(qū)域產(chǎn)生了電荷累積，從而使材料改變了原本的電中性狀態(tài)。空間電荷的存在對(duì)材料的電學(xué)性能有著重要的影響，可能導(dǎo)致電場(chǎng)畸變、絕緣性能下降等問題。
電聲脈沖法（PEA）空間電荷測(cè)試可以便捷準(zhǔn)確地測(cè)量固體儲(chǔ)能材料內(nèi)部空間電荷分布,電聲脈沖法可以測(cè)量較厚的介質(zhì)，可以在帶電狀態(tài)下直接測(cè)量絕緣測(cè)試樣品中的空間電荷分布，可測(cè)空間電荷密度至小為4μC·cm-3,可測(cè)試樣厚度至小為0.2mm。
08.靜電電壓
靜電是一種處于靜止?fàn)顟B(tài)的電荷，雖然其總電荷量不大，但其瞬間釋放所產(chǎn)生的高電壓與大電流非常容易對(duì)周邊電路、設(shè)備乃至人員造成損害。對(duì)儲(chǔ)能材料的靜電性能（包括面電荷密度與電阻）進(jìn)行測(cè)試，可以對(duì)后期防靜電工程設(shè)計(jì)和改善儲(chǔ)能系統(tǒng)的抗靜電性能設(shè)計(jì)提供數(shù)據(jù)支持，對(duì)周圍電路的靜電敏感電子元器件選型提供參考依據(jù)。

配置模塊

1.電壓擊穿（介電場(chǎng)強(qiáng)）
測(cè)試儀表：高壓電源  
測(cè)試環(huán)境配件/夾具：變溫油浴槽  溫度范圍：RT~250℃（視絕緣介質(zhì)性能）
2.高低頻介電溫譜
測(cè)試儀表：阻抗分析儀  
測(cè)試環(huán)境配件/夾具：高低溫冷熱臺(tái)  溫度范圍：-185℃~600℃
高溫近紅外爐  溫度范圍：RT~1450℃
高低溫環(huán)境箱  溫度范圍：-185℃~450℃
3.高溫絕緣電阻測(cè)試
測(cè)試儀表：高阻計(jì)/源表 
測(cè)試環(huán)境配件/夾具：高低溫冷熱臺(tái)  溫度范圍：-185℃~600℃
高溫近紅外爐  溫度范圍：RT~1450℃
高低溫環(huán)境箱  溫度范圍：-185℃~450℃
4.熱釋電測(cè)試
測(cè)試儀表：高阻計(jì)/靜電計(jì)
測(cè)試環(huán)境配件/夾具：高低溫冷熱臺(tái)  溫度范圍：-185℃~600℃
高低溫環(huán)境箱  溫度范圍：-185℃~450℃
5.TSDC熱刺激電流測(cè)試
測(cè)試儀表：高阻計(jì)/靜電計(jì)
測(cè)試環(huán)境配件/夾具：高低溫冷熱臺(tái)  溫度范圍：-185℃~600℃
高低溫環(huán)境箱  溫度范圍：-185℃~450℃
6.充放電儲(chǔ)能密度測(cè)試
測(cè)試儀表：充放電測(cè)試模塊
測(cè)試環(huán)境配件/夾具：變溫測(cè)試盒  溫度范圍：RT~250℃（視絕緣介質(zhì)性能）
7.靜電電壓
測(cè)試儀表：高阻計(jì)/靜電計(jì)
測(cè)試環(huán)境配件/夾具：靜電變溫測(cè)試罐
8.空間電荷測(cè)試
測(cè)試儀表：示波器+高壓電源+功率放大器  
測(cè)試環(huán)境配件/夾具：電聲脈沖法空間電荷測(cè)試夾具

拓展資料

能量密度常用計(jì)算公式：

式中：Uc為電容器的充電能量密度；Ud為電容器的實(shí)際放電能量密度；E為外加電場(chǎng)；D為電位移；Dmax為至大電位移；Dr為剩余電位移；ε0為電介質(zhì)的真空介電常數(shù)；εr為電介質(zhì)的相對(duì)介電常數(shù)；Eb為擊穿場(chǎng)強(qiáng)；η為充放電效率。


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